- Культура. Искусство
- Психология
- Домашние ремесла. Рукоделие
- Растениеводство
- Коллекционирование
- Публицистика
- Эзотерика. Парапсихология
- Медицина и здоровье
- История. Исторические науки
- Филологические науки
- Развлечения. Праздники
- Экономика. Бизнес
- Книги для родителей
- Кулинария
- Охота. Рыбалка. Собирательство
- Секс. Камасутра
- Туризм. Путеводители. Транспорт
- Философские науки. Социология
- Уход за животными
- Ремонт. Строительство. Интерьер
- Естественные науки
- Информационные технологии
- Фитнес. Спорт. Самооборона
- Красота. Этикет
- Государство и право. Юриспруденция
Thin Film Analysis by X-Ray Scattering; John Wiley & Sons Limited
- Издатель: John Wiley & Sons Limited
- ISBN: 9783527607044
- Книги: Техническая литература
- ID:6518249
Цены
Последняя известная цена от 645 р. до 645 р. в 1 магазинах
Вы можете поискать его на других площадках:
Магазин | Цена | Наличие |
---|---|---|
Описание
With contributions by Paul F. Fewster and Christoph Genzel While X-ray diffraction investigation of powders and polycrystalline matter was at the forefront of materials science in the 1960s and 70s, high-tech applications at the beginning of the 21st century are driven by the materials science of thin films. Very much an interdisciplinary field, chemists, biochemists, materials scientists, physicists and engineers all have a common interest in thin films and their manifold uses and applications. Grain size, porosity, density, preferred orientation and other properties are important to know: whether thin films fulfill their intended function depends crucially on their structure and morphology once a chemical composition has been chosen. Although their backgrounds differ greatly, all the involved specialists a profound understanding of how structural properties may be determined in order to perform their respective tasks in search of new and modern materials, coatings and functions. The author undertakes this in-depth introduction to the field of thin film X-ray characterization in a clear and precise manner.
Смотри также о книге.
О книге
Параметр | Значение |
---|---|
Автор(ы) | Mario Birkholz |
Издатель | John Wiley & Sons Limited |
ISBN | 978-3-527-60704-4 |
Отзывы (0)
Добавить отзыв
Книги: Технические науки John Wiley & Sons Limited
Категория 516 р. - 774 р.
Книги: Технические науки
Категория 516 р. - 774 р.