- Культура. Искусство
- Психология
- Домашние ремесла. Рукоделие
- Растениеводство
- Коллекционирование
- Публицистика
- Эзотерика. Парапсихология
- Медицина и здоровье
- История. Исторические науки
- Филологические науки
- Развлечения. Праздники
- Экономика. Бизнес
- Книги для родителей
- Кулинария
- Охота. Рыбалка. Собирательство
- Секс. Камасутра
- Туризм. Путеводители. Транспорт
- Философские науки. Социология
- Уход за животными
- Ремонт. Строительство. Интерьер
- Естественные науки
- Информационные технологии
- Фитнес. Спорт. Самооборона
- Красота. Этикет
- Государство и право. Юриспруденция
Materials Characterization. Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods; John Wiley & Sons Limited
- Издатель: John Wiley & Sons Limited
- ISBN: 9783527670802
- Книги: Техническая литература
- ID:5982639
Цены
Последняя известная цена от 371 р. до 371 р. в 1 магазинах
Вы можете поискать его на других площадках:
Магазин | Цена | Наличие |
---|---|---|
Описание
Now in its second edition, this continues to serve as an ideal textbook for introductory courses on materials characterization, based on the author's experience in teaching advanced undergraduate and postgraduate university students. The new edition retains the successful didactical concept of introductions at the beginning of chapters, exercise questions and an online solution manual. In addition, all the sections have been thoroughly revised, updated and expanded, with two major new topics (electron backscattering diffraction and environmental scanning electron microscopy), as well as fifty additional questions – in total about 20% new content. The first part covers commonly used methods for microstructure analysis, including light microscopy, X-ray diffraction, transmission and scanning electron microscopy, as well as scanning probe microscopy. The second part of the book is concerned with techniques for chemical analysis and introduces X-ray energy dispersive spectroscopy, fluorescence X-ray spectroscopy and such popular surface analysis techniques as photoelectron and secondary ion mass spectroscopy. This section concludes with the two most important vibrational spectroscopies (infra-red and Raman) and the increasingly important thermal analysis. The theoretical concepts are discussed with a minimal involvement of mathematics and physics, and the technical aspects are presented with the actual measurement practice in mind. Making for an easy-to-read text, the book never loses sight of its intended audience.
Смотри также о книге.
О книге
Параметр | Значение |
---|---|
Автор(ы) | Yang Leng |
Издатель | John Wiley & Sons Limited |
ISBN | 978-3-527-67080-2 |
Отзывы (0)
Добавить отзыв
Книги: Технические науки John Wiley & Sons Limited
Категория 297 р. - 446 р.
Книги: Технические науки
Категория 297 р. - 446 р.