- Культура. Искусство
- Психология
- Домашние ремесла. Рукоделие
- Растениеводство
- Коллекционирование
- Публицистика
- Эзотерика. Парапсихология
- Медицина и здоровье
- История. Исторические науки
- Филологические науки
- Развлечения. Праздники
- Экономика. Бизнес
- Книги для родителей
- Кулинария
- Охота. Рыбалка. Собирательство
- Секс. Камасутра
- Туризм. Путеводители. Транспорт
- Философские науки. Социология
- Уход за животными
- Ремонт. Строительство. Интерьер
- Естественные науки
- Информационные технологии
- Фитнес. Спорт. Самооборона
- Красота. Этикет
- Государство и право. Юриспруденция
Nanobeam X-Ray Scattering. Probing Matter at the Nanoscale; John Wiley & Sons Limited
- Издатель: John Wiley & Sons Limited
- ISBN: 9783527655090
- Книги: Техническая литература
- ID:5997997
Цены
Последняя известная цена от 297 р. до 297 р. в 1 магазинах
Вы можете поискать его на других площадках:
Магазин | Цена | Наличие |
---|---|---|
Описание
A comprehensive overview of the possibilities and potential of X-ray scattering using nanofocused beams for probing matter at the nanoscale, including guidance on the design of nanobeam experiments. The monograph discusses various sources, including free electron lasers, synchrotron radiation and other portable and non-portable X-ray sources. For scientists using synchrotron radiation or students and scientists with a background in X-ray scattering methods in general.
Смотри также о книге.
О книге
Параметр | Значение |
---|---|
Автор(ы) | Julian Stangl |
Издатель | John Wiley & Sons Limited |
ISBN | 978-3-527-65509-0 |
Отзывы (0)
Добавить отзыв
Книги: Технические науки John Wiley & Sons Limited
Категория 238 р. - 357 р.
Книги: Технические науки
Категория 238 р. - 357 р.