Труды ФТИАН. Том 20. Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика; Наука, 2009

8 р.

  • Издатель: Наука
  • ISBN: 978-5-02-036976-4
  • EAN: 9785020369764

  • Книги: Электротехника. Электроника
  • ID:1791546
Где купить

Сравнить цены (1)

Цена от 8 р. до 8 р. в 1 магазинах

МагазинЦенаНаличие
13 р. (-35%) Заказ от 800 рублей мы привезем бесплатно! Кэшбэк в Лабиринт до 7%

12.05.2024
Яндекс.Маркет
5/5
У нас есть товары из IKEA Кэшбэк в Яндекс.Маркет до 3.8%
Промокоды на скидку

Наличие уточняйте
03.05.2024
Мы предлагаем профессиональную консультацию, вежливое обслуживание, честные цены и быструю и аккуратную доставку
Мы трудимся, чтобы предложить максимальный выбор: товаров, способов оплаты, вариантов доставки — и лучший сервис
Промокоды на скидку
Быстрая доставка. Мы доставляем товар по всей Беларуси в удобное для вас время
Крупнейшая в Беларуси оптовая и розничная торговая сеть строительных материалов и инструментов
Более 10 лет мы занимаемся продажей компьютеров, ноутбуков и обслуживанием компьютерной техники.

Описание

Сборник, посвященный 20-летию Физико-технологического института РАН, включает в себя статьи по актуальным проблемам микро- и наноэлектроники, микро- и наноэлектромеханики и твердотельных квантовых компьютеров. Рассмотрены перспективы реализации полномасштабных квантовых компьютеров на ионных ловушках в твердотельных структурах, проанализирован перенос электрона в одномерных многоямных структурах. Особое внимание уделено важнейшим вопросам физики и моделирования нанотранзисторов (кремниевые в ультратонком кремнии на изоляторе, туннельные, с графеновым каналом и др.). Исследованы межподзонные оптические переходы в структурах с разрывом запрещенной зоны. Представлены статьи по моделированию электромиграционного разрушения тонкопленочных проводит ков, прочности границы соединенных материалов в зависимости от их микроструктуры и содержание точечных дефектов, моделированию каналов нейтрализации источников пучков быстрых нейтралов, дается обзор плазменных процессов в технологии МЭМС.

Для специалистов в области микро- и наноэлектроники.

Смотри также о книге.

О книге


ПараметрЗначение
ИздательНаука
Год издания2009
Автор(ы)
ISBN978-5-02-036976-4
Размеры70x100/16
Обложкамягкая обложка
Язык изданияrus
Кол-во страниц175


Отзывы (0)


Зарегистрируйтесь и получайте бонусы за покупки!


Книги: Радиоэлектроника. Связь Наука

Категория 7 р. - 10 р.

Книги: Радиоэлектроника. Связь

Категория 7 р. - 10 р.

закладки (0) сравнение (0)

10 ms