Nanoscale Calibration Standards and Methods; John Wiley & Sons Limited

  • Издатель: John Wiley & Sons Limited
  • ISBN: 9783527606870
  • Книги: Техническая литература
  • ID:6516690
Где купить

Цены

Последняя известная цена от 950 р. до 950 р. в 1 магазинах

В данный момент у нас нет информации о наличии данного товара в магазинах.
Вы можете поискать его на других площадках:

МагазинЦенаНаличие
Крупнейшая в Беларуси оптовая и розничная торговая сеть строительных материалов и инструментов
Мы предлагаем профессиональную консультацию, вежливое обслуживание, честные цены и быструю и аккуратную доставку
Промокоды на скидку
Мы трудимся, чтобы предложить максимальный выбор: товаров, способов оплаты, вариантов доставки — и лучший сервис
Промокоды на скидку
24shop - это возможность приобрести все необходимое в одном месте
Домотехника
5/5
Быстрая доставка. Мы доставляем товар по всей Беларуси в удобное для вас время
Промокоды на скидку
Заказ от 800 рублей мы привезем бесплатно!
Яндекс.Маркет
5/5
Промокоды на скидку

Описание

The quantitative determination of the properties of micro- and nanostructures is essential in research and development. It is also a prerequisite in process control and quality assurance in industry. The knowledge of the geometrical dimensions of structures in most cases is the base, to which other physical and chemical properties are linked. Quantitative measurements require reliable and stable instruments, suitable measurement procedures as well as appropriate calibration artefacts and methods. The seminar «NanoScale 2004» (6th Seminar on Quantitative Microscopy and 2nd Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods) at the National Metrology Institute (Physikalisch-Technische Bundesanstalt PTB), Braunschweig, Germany, continues the series of seminars on Quantitative Microscopy. The series stimulates the exchange of information between manufacturers of relevant hard- and software and the users in science and industry. Topics addressed in these proceedings are a) the application of quantitative measurements and measurement problems in: microelectronics, microsystems technology, nano/quantum/molecular electronics, chemistry, biology, medicine, environmental technology, materials science, surface processing b) calibration & correction methods: calibration methods, calibration standards, calibration procedures, traceable measurements, standardization, uncertainty of measurements c) instrumentation and methods: novel/improved instruments and methods, reproducible probe/sample positioning, position-measuring systems, novel/improved probe/detector systems, linearization methods, image processing

Смотри также о книге.

О книге


ПараметрЗначение
Автор(ы)
ИздательJohn Wiley & Sons Limited
ISBN978-3-527-60687-0


Отзывы (0)


Зарегистрируйтесь и получайте бонусы за покупки!


Книги: Технические науки John Wiley & Sons Limited

Категория 760 р. - 1140 р.

Книги: Технические науки

Категория 760 р. - 1140 р.

закладки (0) сравнение (0)

124 ms