- Культура. Искусство
- Психология
- Домашние ремесла. Рукоделие
- Растениеводство
- Коллекционирование
- Публицистика
- Эзотерика. Парапсихология
- Медицина и здоровье
- История. Исторические науки
- Филологические науки
- Развлечения. Праздники
- Экономика. Бизнес
- Книги для родителей
- Кулинария
- Охота. Рыбалка. Собирательство
- Секс. Камасутра
- Туризм. Путеводители. Транспорт
- Философские науки. Социология
- Уход за животными
- Ремонт. Строительство. Интерьер
- Естественные науки
- Информационные технологии
- Фитнес. Спорт. Самооборона
- Красота. Этикет
- Государство и право. Юриспруденция
Measurement Technology for Micro-Nanometer Devices; John Wiley & Sons Limited
- Издатель: John Wiley & Sons Limited
- ISBN: 9781118717981
- Книги: Техническая литература
- ID:6003506
Цены
Последняя известная цена от 402 р. до 402 р. в 1 магазинах
В данный момент у нас нет информации о наличии данного товара в магазинах.
Вы можете поискать его на других площадках:
Вы можете поискать его на других площадках:
Магазин | Цена | Наличие |
---|---|---|
Описание
A fully comprehensive examination of state-of-the-art technologies for measurement at the small scale - Highlights the advanced research work from industry and academia in micro-nano devices test technology - Written at both introductory and advanced levels, provides the fundamentals and theories - Focuses on the measurement techniques for characterizing MEMS/NEMS devices
Смотри также о книге.
О книге
Параметр | Значение |
---|---|
Автор(ы) | Jingdong Chen |
Издатель | John Wiley & Sons Limited |
ISBN | 978-1-118-71798-1 |
Отзывы (0)
Добавить отзыв
Зарегистрируйтесь и получайте бонусы за покупки!
Книги: Технические науки John Wiley & Sons Limited
Категория 322 р. - 483 р.
Mechatronics
325 р.
Yield Design
325 р.
Home Area Networks and IPTV
325 р.
Logistics
324 р.
Emergency Management
322 р.
Книги: Технические науки
Категория 322 р. - 483 р.