- Культура. Искусство
- Психология
- Домашние ремесла. Рукоделие
- Растениеводство
- Коллекционирование
- Публицистика
- Эзотерика. Парапсихология
- Медицина и здоровье
- История. Исторические науки
- Филологические науки
- Развлечения. Праздники
- Экономика. Бизнес
- Технические науки
- Книги для родителей
- Кулинария
- Охота. Рыбалка. Собирательство
- Секс. Камасутра
- Туризм. Путеводители. Транспорт
- Философские науки. Социология
- Уход за животными
- Ремонт. Строительство. Интерьер
- Информационные технологии
- Фитнес. Спорт. Самооборона
- Красота. Этикет
- Государство и право. Юриспруденция
Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells; John Wiley & Sons Limited
- Издатель: John Wiley & Sons Limited
- ISBN: 9783527699018
- Книги: Прочая образовательная литература
- ID:6003165
Цены
Последняя известная цена от 940 р. до 940 р. в 1 магазинах
Вы можете поискать его на других площадках:
Магазин | Цена | Наличие |
---|---|---|
Описание
The book focuses on advanced characterization methods for thin-film solar cells that have proven their relevance both for academic and corporate photovoltaic research and development. After an introduction to thin-film photovoltaics, highly experienced experts report on device and materials characterization methods such as electroluminescence analysis, capacitance spectroscopy, and various microscopy methods. In the final part of the book simulation techniques are presented which are used for ab-initio calculations of relevant semiconductors and for device simulations in 1D, 2D and 3D. Building on a proven concept, this new edition also covers thermography, transient optoelectronic methods, and absorption and photocurrent spectroscopy.
Смотри также о книге.
О книге
Параметр | Значение |
---|---|
Автор(ы) | Группа авторов |
Издатель | John Wiley & Sons Limited |
ISBN | 978-3-527-69901-8 |
Отзывы (0)
Добавить отзыв
Книги: Естественные науки John Wiley & Sons Limited
Категория 752 р. - 1128 р.
Книги: Естественные науки
Категория 752 р. - 1128 р.