Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении; Техносфера, 2014

от 46 р. до 52 р.

Где купить

Сравнить цены (2)

Цена от 46 р. до 52 р. в 2 магазинах

МагазинЦенаНаличие
Наличные, б/н, visa, qiwi, webmoney, я.деньги Заказ от 800 рублей мы привезем бесплатно! Кэшбэк в Лабиринт до 7%

03.07.2024
Кэшбэк в Читай-город до 6.3%
Промокоды на скидку

03.07.2024
Яндекс.Маркет
5/5
Кэшбэк в Яндекс.Маркет до 3.8%
Промокоды на скидку

Наличие уточняйте
17.06.2024
Повышенный кешбэк до 40%
Промокоды на скидку

Наличие уточняйте
09.04.2024
Более 10 лет мы занимаемся продажей компьютеров, ноутбуков и обслуживанием компьютерной техники.
Крупнейшая в Беларуси оптовая и розничная торговая сеть строительных материалов и инструментов
Мы предлагаем профессиональную консультацию, вежливое обслуживание, честные цены и быструю и аккуратную доставку
Мы трудимся, чтобы предложить максимальный выбор: товаров, способов оплаты, вариантов доставки — и лучший сервис
Промокоды на скидку
24shop - это возможность приобрести все необходимое в одном месте
Домотехника
5/5
Быстрая доставка. Мы доставляем товар по всей Беларуси в удобное для вас время

Описание

Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ.

Перевод на русский язык второго оригинального издания книги «Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении» является одной из первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области.

Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов.

Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении - фото №1

Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении - фото №2

Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении - фото №3

Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении - фото №4

Смотри также о книге.

О книге


ПараметрЗначение
ИздательТехносфера
Год издания2014
Возрастные ограничения12
Автор(ы)
Кол-во страниц648
СерияМир физики и техники
ISBN978-5-94836-385-1
Размеры17,50 см × 24,70 см × 3,40 см
ТематикаФизика
Обложкатвердый переплёт
Жанрфизика
Оформление обложкилакировка
Вес0.65
Формат70x100/16
Количество страниц560
ИздательствоТехносфера
Количество книг1
Возрастное ограничение16+
Тип обложкитвердая


Отзывы (0)


Зарегистрируйтесь и получайте бонусы за покупки!


Книги: Физические науки. Астрономия Техносфера

update

Книги: Физические науки. Астрономия

Категория 37 р. - 56 р.

update
закладки (0) сравнение (0)

14 ms