Инженерные основы измерений нанометровой точности: Учебное пособие; Издательский Дом Интеллект, 2012

Издатель: Интеллект групп
ISBN: 978-5-91559-119-5
EAN: 9785915591195
Книги: Метрология, стандартизация и сертификация
ID:1728834

Где купить

Рейтинг:

(0/5)

Отзывы (0) Оставить отзыв

Описание Характеристики Цены Отзывы (0)

Сравнить цены

Последняя известная цена от 60 р. до 135 р. в 6 магазинах

В данный момент у нас нет информации о наличии данного товара в магазинах.
Вы можете поискать его на других площадках:

Магазин	Цена	Наличие
Лабиринт 5/5 ООО "ЛАБИРИНТ.РУ" ИНН: 7728644571	Заказ от 800 рублей мы привезем бесплатно!	Наличие уточняйте 21.11.2024

Яндекс.Маркет 5/5 ООО "ЯНДЕКС" ИНН: 7736207543	Кэшбэк в Яндекс.Маркет до 3.8% ✔ Промокоды на скидку	Наличие уточняйте 20.06.2024

OMA BY 5/5 Информация о компании	Крупнейшая в Беларуси оптовая и розничная торговая сеть строительных материалов и инструментов

Algo BY 5/5 Информация о компании	Мы предлагаем профессиональную консультацию, вежливое обслуживание, честные цены и быструю и аккуратную доставку ✔ Промокоды на скидку

OZ BY 5/5 Информация о компании	Мы трудимся, чтобы предложить максимальный выбор: товаров, способов оплаты, вариантов доставки — и лучший сервис ✔ Промокоды на скидку

24shop BY 5/5 Информация о компании	24shop - это возможность приобрести все необходимое в одном месте

Домотехника 5/5 Информация о компании

21vek BY 5/5 Информация о компании	Быстрая доставка. Мы доставляем товар по всей Беларуси в удобное для вас время

Описание

Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс. Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.

Инженерные основы измерений нанометровой точности: Учебное пособие - фото №1

Инженерные основы измерений нанометровой точности: Учебное пособие - фото №2

Инженерные основы измерений нанометровой точности: Учебное пособие - фото №3

Смотри также о книге.

О книге

Параметр	Значение
Издатель	Издательский Дом Интеллект
Год издания	2012
ISBN	978-5-91559-119-5
Размеры	14,90 см × 21,60 см × 2,20 см
Автор(ы)	Лич Ричард
Тематика	Аппаратные средства
Раздел	Информационные технологии
Количество страниц	400
Формат	149x216мм
Вес	0.52кг
Обложка	твердый переплёт
Кол-во страниц	400